Surftest (表面粗糙度測量儀) SJ-500P/SV-2100M4 (PC 型)
178 系列 — 帶有 PC (個人電腦)

高、表面粗糙度測試儀充分利用分析軟件優(yōu)勢。SJ-500P 是單機，而SV-2100M4 則是一種臺式設(shè)備，含手動立柱。

特點
• 控制部件中的內(nèi)置操縱桿使得定位快捷簡便。測量小孔內(nèi)側(cè)時可使用手動旋鈕對細小測針的位置進行微調(diào)。
• 表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS 粗糙度標準計算繪圖指令號。 復雜的測量條件設(shè)置很容易輸入，只要由表面粗糙度菜單中選擇繪圖指令號即可。

技術(shù)參數(shù): SJ-500P
X 軸 (驅(qū)動部)
測量范圍: 50mm
分辨率: 0.05μm
長度基準: 線性編碼器
驅(qū)動速度: 0 - 20mm/s
測量速度: 0.02 - 5mm/s
移動方向: 向后
直線度: 0.2μm / 50mm
定位: &plun;1.5º (傾角, 有DAT 功能)
30mm (向上／向下)
檢測器
范圍／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,
8μm / 0.0001μm
檢測方法: 無軌／有軌測量
測力: 參見性能參數(shù)表
測針針尖: 參見性能參數(shù)表
導頭曲率半徑: 40mm
類型: 差動電感式
驅(qū)動裝置的控制: PC 操作

技術(shù)參數(shù): SV-2100 M4 (PC 型)
X 軸 (驅(qū)動部)
測量范圍: 100mm
分辨率: 0.05μm
長度基準: 線性編碼器
驅(qū)動速度: 0 - 40mm/s
測量速度: 0.02 - 5mm/s
移動方向: 向后
直線度: 0.15μm / 100mm
Z2 軸 (立柱)
類型: 手動操作
垂直移動: 350mm
檢測器
范圍／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,
8μm / 0.0001μm
檢測方法: 無軌／有軌測量
測力: 參見性能參數(shù)表
測針針尖: 參見性能參數(shù)表
類型: 差動電感式

評估能力: SURFPAK-SV
評估輪廓
P (原始輪廓), R (表面粗糙度輪廓), WC, WCA, WE, WEA,
DIN4776 輪廓, 包絡(luò)殘余線, 粗糙度motif, 波形motif
評價參數(shù)
Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv,Rvmax, Rvi, Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi), , HSC, mr,dc, plateau ratio, mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Da, Dq, la,lq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1, A2
粗糙度motif 參數(shù): Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX,
波形motif 參數(shù): Wte, Wx, W, AW SW, SAW, NW
分析圖表
ADC, BAC1, BAC2, 功率譜圖, 自相關(guān)圖, Walsh 功率譜
圖, Walsh 自相關(guān)圖, 傾斜分布圖, 局部峰值分布圖,
參數(shù)分布圖
濾波類型 2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% (相位校正),
2CR-50% (相位校正), 高斯-50%
截止波長*
lc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm
取樣長度*
0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm,
25mm
數(shù)據(jù)補償功能
傾斜補償，R 平面(曲面) 補償，橢圓補償，拋物線補償，
雙曲線補償，二次曲線自動補償，多項式補償，多項
式自動補償
* 可在0.025 至移動長度間指定任意長度