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Chroma 19501-K局部放電測(cè)試器內(nèi)建交流耐電壓測(cè)試(HipotTest)與局部放電(PartialDischarge,PD)偵測(cè)功能于一單機(jī)，提供交流電壓輸出0.1kV~10kV，漏電流測(cè)量范圍0.01μA~300μA，局部放電偵測(cè)范圍1pC~2000pC，針對(duì)高壓半導(dǎo)體組件與高絕緣材料測(cè)試應(yīng)用所設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)。Chroma19501-K局部放電測(cè)試器產(chǎn)品設(shè)計(jì)符合IEC60270-1法規(guī)，針對(duì)高電壓試驗(yàn)技術(shù)中對(duì)局部放電測(cè)試要求，采用窄頻濾波器(Narrow[1]band)量測(cè)技術(shù)進(jìn)行PD放電量測(cè)量，并將量測(cè)結(jié)果以直觀數(shù)值(pC)顯示在屏幕上讓用戶(hù)清楚明了待測(cè)物測(cè)試判定結(jié)果。產(chǎn)品設(shè)計(jì)上，除了符合IEC60270-1，同時(shí)也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求，內(nèi)建IEC60747-5-5法規(guī)之測(cè)試方法于儀器內(nèi)部，滿(mǎn)足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試需求，并提供用戶(hù)便利的操作接口。應(yīng)用于電源系統(tǒng)之安規(guī)組件，如光耦合器，因考慮如果組件長(zhǎng)時(shí)間發(fā)生局部放電對(duì)于絕緣材料的破壞，而發(fā)生絕緣失效的情況，進(jìn)而引發(fā)使用者人身安全問(wèn)題；因此，在IEC60747-5-5法規(guī)中提及，于生產(chǎn)過(guò)程中(Routinetest)必須100%執(zhí)行局部放電(Partialdischarge)檢測(cè)，在絕緣電壓條件下不能超過(guò)5pC放電量，確保產(chǎn)品在正常工作環(huán)境中不會(huì)發(fā)生局部放電現(xiàn)象。

主要特點(diǎn)

■單機(jī)內(nèi)建交流耐壓測(cè)試與局部放電偵測(cè)功能

■可程序交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac

■高精度及高分辨率電流表0.01μA~300μA

■局部放電(PD)偵測(cè)范圍1pC~2000pC

■高壓接觸檢查功能(HVCC)

■符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC60270法規(guī)測(cè)試要求

■內(nèi)建IEC60747-5-5測(cè)試方法

■量測(cè)與顯示單元分離式設(shè)計(jì)

■三段電壓測(cè)試功能

■PD測(cè)量結(jié)果數(shù)值顯示(pC)

■PD不良發(fā)生次數(shù)判定設(shè)定(1~10)

■多語(yǔ)系繁中/簡(jiǎn)中/英文操作接口

■USB畫(huà)面擷取功能

■圖形化輔助編輯功能

■標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232遠(yuǎn)程控制接口

局部放電量測(cè)技術(shù)

局部放電意指在絕緣物體中局部區(qū)域發(fā)生放電，且未形成兩電極間的固定通道放電即稱(chēng)為局部放電。局部放電測(cè)試器對(duì)待測(cè)物施加一個(gè)特定條件下的電壓，測(cè)量其視在放電電荷量(PD)，除了驗(yàn)證其能否承受瞬間高電壓(HipotTest)的能力，同時(shí)也驗(yàn)證在額定工作電壓的絕緣完整性。局部放電測(cè)試能夠偵測(cè)待測(cè)物是否存在異常氣隙，透過(guò)施加一個(gè)略高于組件高額定工作電壓的局部放電電荷測(cè)試，用以檢驗(yàn)電氣組件在正常工作電壓條件下之長(zhǎng)久可靠性，但于實(shí)際生產(chǎn)上絕緣材料內(nèi)部當(dāng)然不可能百分之百無(wú)氣隙存在于絕緣材料內(nèi)，故在IEC60747-5-5光耦合器法規(guī)針對(duì)局部放電測(cè)試定義其放電電荷量不能大于5pC(qpd=5pC)。

局部放電器校正

局部放電測(cè)試設(shè)備用于測(cè)量與判定微小放電量，其訊號(hào)非常微小且快速，因此局部放電量測(cè)設(shè)備于出廠前必須透過(guò)精密的校正才能確保放電發(fā)生時(shí)，其高頻訊號(hào)能夠被精準(zhǔn)的測(cè)量，在高壓試驗(yàn)技術(shù)法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)IEC60270-1章節(jié)中對(duì)于局部放電的校正標(biāo)準(zhǔn)與方法在法規(guī)條文中有明確指示跟說(shuō)明，Chroma19501-K局部放電器亦依據(jù)法規(guī)要求進(jìn)行設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)。校正器上所使用的標(biāo)準(zhǔn)電容Co通常為一個(gè)低壓電容器，因此執(zhí)行PD校正時(shí)局部放電測(cè)試器設(shè)備是在不帶電的狀態(tài)下進(jìn)行校正，也就是只針對(duì)PD量測(cè)回路執(zhí)行校正，在法規(guī)內(nèi)文中也有說(shuō)明，為了使校正有效，用于校正器上的標(biāo)準(zhǔn)電容Co必須小于0.1Ca，則校正器上的脈沖等效放電量qo=VoCo單次放電脈沖。如圖說(shuō)明: