詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：臺灣
- 交流耐壓輸出：0.1kVac~10kVac
- 電流表：0.01μA~300μA
- 偵測范圍：1pC~2000pC
局部放電測試儀
PARTIAL DISCHARGE TESTER
MODEL Chroma 19501-K
基本介紹
Chroma 19501-K局部放電測試器內建交流耐電壓測試(Hipot Tes t)與局部放電(Partial D i s c h a rg e, P D)偵測功能于一單機，提供 交 流 電 壓 輸 出 0 . 1 k V ~ 1 0 k V ， 漏 電 流 測 量 范圍0 . 0 1 μ A ~3 0 0 μ A，局部放電偵測范圍 1pC~2000pC，針對高壓半導體組件與高絕緣材 料測試應用所設計與開發。局部放電測試器產品設計符 合IEC60270-1法規，針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求，采用窄頻濾波器 (Narrow[1]band) 量測技術進行PD放電量測量，并將量測結果以直觀數值 (pC) 顯示在屏幕上讓用戶清楚明了待測物測試判定結果。 Chroma的高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check : HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之組件，于高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測試有效性與生產效率。在IEC60747-5-5法規中提及，于生產過程中 (Routine test) 必須100%執行局部放電 (Partial discharge) 檢測，在zui大絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產品在正常工作環境中不會發生局部放電現象。 局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受力之組件，提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產品質量與提升產品可靠度。
主要特點
■ 單機內建交流耐壓測試與局部放電偵測功能
■ 可程序交流耐壓輸出 0.1kVac~10kVac
■ 高精度及高分辨率電流表 0.01μA~300μA
■ 局部放電(PD)偵測范圍 1pC~2000pC
■ 高壓接觸檢查功能( HVCC)
■ 符合IEC60747-5-5、VDE0884、 IEC 60270法規測試要求
■ 內建IEC60747-5-5測試方法
■ 量測與顯示單元分離式設計
■ 三段電壓測試功能
■ PD測量結果數值顯示 (pC)
■ PD不良發生次數判定設定 (1~10)
■ 多語系繁中/ 簡中/英文操作接口
■ USB畫面擷取功能
■ 圖形化輔助編輯功能
■ 標準LAN、USB、RS232遠程控制接口
局部放電器校正功能
局部放電測試設備用于測量與判定微小放電量，其訊號非常微小且快速，因此局部放電量測設備于出廠前必須透過精密的校正才能確保放電發生時，其高頻訊號能夠被精準的測量，在高壓試驗技術法規標準IEC60270-1章節中對于局部放電的校正標準與方法在法規條文中有明確指示跟說 明，Chroma 19501-K 局部放電器亦依據法規要求進行設計與開發。 校正器上所使用的標準電容Co通常為一個低壓電容器，因此執行PD校正時局部放電測試器設備是在不帶電的狀態下進行校正，也就是只針對PD 量測回路執行校正，在法規內文中也有說明，為了使校正有效，用于校正器上的標準電容Co必須小于0.1 Ca，則校正器上的脈沖等效放電量 qo =Vo Co 單次放電脈沖。如圖說明 :
高精準量測
Chroma 19501-K擁有高精度的局部放電測量，具有兩個量測檔位，分別為200pC與2000pC 檔位，測量范圍從1pC~2000pC，在200pC文件位下分辨率為0.1pC，高精度的測量與直觀性的將量測結果顯示在畫面上，有助于對高絕緣物體進行微小放電量判定與分析。
