HiperS-320i全焦面影像校正光柵單色儀/光柵光譜儀
卓立漢光開發的新一代全焦面影像校正光譜儀， 采用全焦面非對稱影像校正技術，極大程度的抑制多種光學像差，獲得了理想的成像效果，從而提升了光譜儀的信號強度和分辨率水平。同時使光譜儀在寬波段范圍內全焦面都擁有極小的像差，整個像面上都呈現出近乎完美的影像效果，大幅度拓展光譜分析的應用領域，可被用于空間分辨的實驗，實現多通道實時探測，極大地提升光譜測試分析質量。
功能及特點：
支持雙入口、雙出口的結構配置，自動切換入口/出口，增強光譜測試應用靈活性。
采用非對稱結構的全焦面影像 校正技術，使光譜儀在寬波段 范圍內全焦面呈現出近乎完美的影像效果，獲得了更好的空間分辨率和光譜分辨率。
注：9 芯光纖束 /100um 芯徑，成像面高度 3.8mm
內置光譜分辨率增強技術模塊，進一步提升光譜儀分辨率及影像質量。
啟用分辨率增強模塊，分辨率可進一步提升約20%。
? 全新設計的三光柵在軸旋轉塔臺方案，提升光柵的有效使用面積，在光譜儀使用范圍內，極大地提升光柵通光效率的一 致性。
光柵在軸旋轉光柵利用率提高 15%。（1200g/mm 光柵，波長 550nm 位置）
? 消像差校正技術的運用，可獲得更高的分辨率和對稱性更好的峰形，提高了光子利用率，也可使波長信息更加精準。
?采用智能自動聚焦技術，多光柵切換使用時，使光譜儀處于分辨率卓越、影像卓越狀態；
規格參數表(@1200g/mm光柵條件下)
注1：狹縫光譜分辨率，常規光譜儀在中心波長435.83nm，狹縫寬度10um；
注2：CCD單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為435.83nm下的典型值，隨著中心波長增加，攝譜范圍變窄；
注3：隨著中心波長的增大，倒線色散數值減小，隨著中心波長減小，倒線色散數值增大；
注4：直入狹縫無法配置電動狹縫。
典型型號表
光譜儀HiperS-3208i外形尺寸圖：
