1.透過波長:8-13um左右;

2.透過率:75%以上;

3.材料:Silicon;

4.常用規格(現貨):ø10.0X0.5(mm) /10x10x0.5(mm)/11.3x10x0.5(mm)等

約0.7～1000μmの波長領域を赤外領域とされています。さらに通常、近赤外線(0.7～2.5μm)、中間赤外線(2.5～25μm)、遠赤外線(25～1000μm)の3つの領域に分けられます。そして、常溫付近(約300K)の物體から放射される赤外線は10μm前後の波長領域にあり、この中間赤外領域付近でのフィルターは、多層膜による干渉フィルターが主流となっています。その理由としては、次の2點が挙げられます。

i）　この領域では、高屈折率で透明な基板材料があること。
ii）　可視領域に比べ波長範囲が広いために吸収による分光法が補助的にしか使えないこと。

特徴

石英,サファイア、Si、Geなどの赤外用光學基板に多層膜を形成して、その干渉膜の作用により、赤外線を制御するフィルターです。使用する光學基板の選択は、材料の光學特性を利用しています。

用途

赤外線ガス分析(主にCO2、CO、HC、X、SOX、O3ガス濃度検知に用いられ、、有機物、排出ガスのセンサー類に利用)、赤外線水分分析(H2Oの吸収帯を検出し?水分量測定器等に利用)、赤外線放射溫度計(サーモグラフィー、溫度センサー等に利用)、赤外線厚さ計(高分子に含まれるHCの吸収帯を検出し、フィルム厚さ測定器等に利用)、回折格子の高次カットフィルター,ボディーセンサー(人體検知による自動ドアや警報機のセンサー等に利用)のような計測、制御機器類や、その他赤外線を利用した光學系に使用できます。

主な赤外域フィルターは、以下のように分類されます。 [特徴] 波長域を限定した赤外線のみを透過します。設定した波長の両側に不要な透過光が生じますが要に応じて、カットフィルター等を用いて除去します。中心波長に対する半値幅の比率に対応した0型から3型を揃えています?型が大きくなると、半値幅が太くなります。 以下に、分光特性例および基準特性表を示します。表中に無い規格、基板サイズについては、ご要求に対応致します。 [分光特性例] 　　▲ IR-BPF-0 te(Si substrate) 　　▲ IR-BPF-1 te(Si substrate) 　　▲ IR-BPF-2 te (Sapphire substrate) 　　▲ IR-BPF-3 te (Sapphire substrate) 特性規格 品種 IR-BPF-0 te IR-BPF-1 te IR-BPF-2 te IR-BPF-3 te 製作 波長 範囲 [μm] 透過率 [%] 中心波長に対するおおよその比率 [%] 透過率 [%] 中心波長に対するおおよその比率 [%] 透過率 [%] 中心波長に対するおおよその比率 [%] 透過率 [%] 中心波長に対するおおよその比率 [%] 1.7～1.79 － － ≧40 2.9 ≧50 6.0 － － 1.8～1.99 － － ≧60 3.4 ≧50 70 － － 2.0～2.49 － － ≧70 4.0 ≧70 8.0 ≧70 16.0 2.5～4.99 ≧60 2.0 ≧7.0 4.0 ≧70 8.0 ≧70 16.0 5.0～5.5 ≧60 2.0 ≧70 4.0 ≧70 8.0 ≧70 16.0 中心波長の 許容範囲 [%] +0.35 -0.35 +0.5 -0.5 +0.5 -0.5 +0.5 -0.5 寸法規格 直徑 [mm] 10　15　20　25　30 [特徴] 特定の波長以下をシャープにカットして、長波長側を透過します。 [分光特性例]　（入射角0°） 　　▲ IR-LWPF(Ge substrate) 　　▲ IR-LWPF(Si substrate) 　　▲ BSE(Si substrate) 　　▲ BSE(Si substrate) [特徴] 特定の波長以上を急峻に遮斷して、短波長側を透過します。また、LWPFと組み合わせ、任意の波長帯で広帯域のBPFも作製可能です。 分光特性例および標準基板の種類,サイズ規格は、以下のようになっています。表中に無い基板の形狀および寸法についてはご要求に対応致します [分光特性例]　（入射角0°） 　　▲ IR-SWPF＋LWPF(Ge substrate) 　　▲ IR-SWPF(Sapphire substrate) 特性規格 素材基板 寸法規格 IR-LＷPF IR-SWPF 白板 石英 サファイア Si Ge 15,20,25,30(mm) 4 inch BSE Si 4 inch