Nano Indenter G200 是一套完整的納米力學顯微探針系統，其功能包括了納米壓痕、納米劃痕以及納米力學顯微鏡等。整個測試流程都是全自動的，這樣就提高了測試數據的可靠性和可重復性。
創新技術和優勢
• 傳感器的高，穩定性和重復性好，人性化的界面設計，使用方便。
• 多種加載模式：恒載荷速率、恒位移速率、恒應變速率以及階梯加載。
• Agilent技術--連續剛度測量，基底效應難題迎刃而解。
• 機械部分全新的設計，Ｘ-Ｙ方向的運動范圍：２００Ｘ２００mm。
• 電控部分采用了全新的第三代技術，儀器的穩定性更高，實現了更高速的數據采集和傳遞，并且做到數據的實時
處理和顯示，包括硬度和彈性模量在壓入過程中的實時顯示。
• Ｘ-Ｙ運動系統，采用了納米運動馬達和 linear encoders等, 樣品臺移動快，并且定位更準確，試樣高度實現了原位調節。
• 內置LED光源，并且實現了軟件對顯微鏡光源的控制，使得試樣表面的圖像觀察更加方便，圖像質量更加清晰。
• 超高的金剛石壓頭，新的Berkovich壓頭頂端曲率半徑20nm。
• 壓入過程中的熱漂移效應全自動扣除，測量結果更加真實、可靠。
• 內置溫度測量。
• 載荷范圍自動識別。
• 完全符合ISO-14577（國際標準），GB/T22458—2008 （中國國標）。
• Agilent是的測量領域的公司，在國內有8家分公司,28個維修站，2個工廠。
• 國內高水平的人員和國際科學家的技術支持。
Nano Indenter 的主要指標
G200
位移能力
位移測量方式 電容位移傳感器
壓頭總的位移范圍 ≥1.5mm
壓痕深度 >500um
位移分辨率 <0.01nm
載荷能力
加載模式 電磁力
載荷（標配） >500mN
載荷分辨率 50nN
高載荷選件 10N /50nN
DCM壓痕選件 10mN/1nN
框架剛度 ≥5x106N/m
樣品臺
有效使用面積 100mmX100mm
定位 1um
定位控制模式 全自動遙控
光學顯微鏡
總的放大倍率 250倍和1000倍
物鏡鏡頭 10X 和40X
