- 原產(chǎn)地:深圳
比對(duì)。也可采用邊界掃描測(cè)試,對(duì)TDO,TDI,TMS,TCK,GND,
加VDD和地,就可以測(cè)試IC的每個(gè)腳的好壞。

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林世權(quán)先生(聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說(shuō)明是在維庫(kù)儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)
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