CMI 243是一款專門為測量磁性金屬上的涂鍍層(如鋅、鎳等)厚度而設計的便攜式膜厚儀。的渦電流測試方法使測量更。的微型測量探頭幾乎可以測量鐵質(zhì)底材上的金屬鍍層，高端配置的測量探頭對細小的件也可以測量，幾乎可以運用于任何形狀的產(chǎn)品。它具有X射線熒光的測量，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。CMI 243在設計上更加合理、、實用。

●ECP-M探頭：鋅、鎳均可以測量

●準確度：&plun;1%

●測量范圍：0.08-1.50mils(2-38μm)

●分辨率：0.01mils (0.1μm)

●適用標準：合ASTM B244—b259，DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT),BS 5411 part 3

●單位：英制和公制單位自動轉(zhuǎn)換

●統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標準差，值，值，終值

●記憶儲存：12,400個數(shù)據(jù)儲存

●接口：RS-232串行端口，波特率可調(diào)，可接打印機或計算機

●顯示：液晶顯示(LCD),字高度1/2” (1.27cm)

●電池：9V干電池或可充電電池。

●尺寸：57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D)  (14.9×7.94×3.02 cm)

●重量：9盎司/0.26kg,  (包括電池重量在內(nèi))

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