名稱：飽和加速壽命試驗機 飽和加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化 特點：
具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動補水。
試驗過程自動運轉至完成結束，使用簡便。
溫度控制：LED數字型溫度控制器可作試驗溫度之設定、控制及顯示。
計時器：LED數字型計時器，當鍋內溫度到達後才開始計時以確保試驗完全。
精準的壓力／溫度表隨時顯示鍋內壓力與相對溫度。
運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到蒸氣品質。
一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。
試驗箱內經拋光處理經久耐用美觀不沾污。 安全裝置：
鍋內安全裝置：鍋門若未關緊則機器無法啟動。
安全閥：當鍋內壓力超過工作值自動排氣泄壓。
雙重過熱保護裝置：當鍋內溫度過高時，機器嗚叫警
報并自動切斷加熱電源。
門蓋保護：ABS材質制成可防止操作人員接觸燙傷。 技術規(guī)格：
| 型 號 | PCT -30 | PCT -45 | PCT -50 | PCT - 60 |
| 內部尺寸(W×H×D)mm | Φ250×300 | Φ300×450 | Φ450×500 | Φ650×600 |
| 外箱尺寸(W×H×D)mm | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
| 使用溫度 | 121℃；132℃；(143℃特殊選用) | |||
| 使用濕度 | 100％RH飽和蒸氣濕度 | |||
| 使用蒸氣壓力(壓力) | 1個環(huán)境大氣壓 +0.0Kg／cm2 - 2.0Kg／cm2 ；(3.0Kg／cm2屬于特殊規(guī)格) | |||
| 循環(huán)方式 | 水蒸氣自然對流循環(huán) | |||
| 安全保護裝置 | 缺水保護，超壓保護、 (具有自動／手動補水功能，自動瀉壓功能) | |||
| 配 件 | 不銹鋼隔板兩層 | |||
| 電 源 | AC220V，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz | |||
