- 產品品牌：
- 大平
磁粉標準B型試塊
本品用于磁粉探傷時對幾何形狀復雜，不同材質的工件檢驗時，可以正確地選擇磁化規范，并可檢驗探傷設備、磁粉或磁懸液的性能，在磁粉探傷操作中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量，是磁粉探傷必備的調試工具。
磁粉標準B型試塊 符合JB/T6066-2004標準
標準磁探B型試塊（亦稱12孔直流試環），與美國的BETZ同效；適合于檢驗磁粉探傷設備磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度），也用于考察試驗條件和操作方法是否適當。當不能確定磁化規范、磁場方向和有效磁化范圍。B型試塊用于驗證磁化電流為直流電或三相全波整流電的磁粉綜合性能。
規格：中心孔徑φ31.8mm, 人工缺陷孔徑φ1.78mm, 表面距離1.78-21.34mm
