產(chǎn)品介紹：
　　本著對插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更小樣品測試腔的設(shè)計，帶有聚焦光點的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測系統(tǒng)，眾多條件的選擇，測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
　　X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，、快速和更準(zhǔn)確的特點，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的有了檢驗的保障。
　　Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺，可以通過鼠標(biāo)的點擊操作，選擇樣品的多點測試，適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測試。
　　Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備，測試樣品的部位清楚明了，同時攝像設(shè)備拍抓測試部位的圖片，和測試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測試中。
　　Ux-700鍍層測厚儀采用了新技術(shù)FlexFp-Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。

　　產(chǎn)品指標(biāo)：
　　測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)
　　測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
　　測量下限：0.003um
　　測量上限：30-50um（以材料元素判定）
　　測量層數(shù)：10層
　　測量用時：30-120秒
　　探測器類型：Si-PIN電制冷
　　探測器分辨率：149eV
　　高壓范圍：5-50Kv，50W
　　X光管參數(shù)：5-50Kv，50W，側(cè)窗類；
　　光管靶材：Mo靶；
　　濾光片：鍍層濾光片
　　CCD觀察：260萬像素
　　微移動范圍：XY15mm
　　輸入電壓：AC220V，50/60Hz
　　測試環(huán)境：非真空條件
　　數(shù)據(jù)通訊：U2.0模式
　　準(zhǔn)直器：？0.5mm
　　軟件方法：FlexFP-Mult
　　工作區(qū)：開放工作區(qū)自定義
　　樣品腔：70*20mm
　　整機重量：38kg

　　鍍層測厚方法：
　　1.磁性涂層測厚法
　　使用磁性測厚法可測鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的非導(dǎo)磁金屬和非導(dǎo)電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
　　2.渦流層層測厚法
　　可以測量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
　　3.X射線熒光法
　　金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
　　常用單位：
　　微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”，密耳（mil）
　　1um＝39.4邁，1um＝0.04mil