M-service鏡面檢測儀
2054-CIL
2054-CIL系列測量顯微鏡標配有同軸以及側向照明裝置。同軸照明的優點將在本頁的應用示例中闡明。是在鍍鉻的、鏡面表面上常常不能借助側向照明證實表面結構。只有借助直接從物鏡射出的光才能完成檢查。使用標準底座的2054-CIL顯微鏡提供40的放大倍數。與MST 支架組合后也可以使用2倍物鏡。在軋輥上只能借助MST支架使用顯微鏡。附加的側向照明可以實現例如印刷品上的網點檢查與測量。同樣也可以使用數碼相機，比如帶有U相機的附加設備。通過裝有兩節1.5 伏小型電池的小型電池盒為同軸照明進行供電。
2034-CIL-300-ZX
2034-CIL-300-ZX 系列測量顯微鏡是深度測量的理想助手。通過幾乎無間隙的同軸移動可以對聚焦面進行的調焦。為了這一目標，對2034系列顯微鏡鏡體進行了改良。使用成套的 30物鏡，相當于300倍放大倍數，可以微小的景深，而這正是加工所需要的。當然也可以使用這種顯微鏡進行普通的長度測量。長度測量以及數碼測量儀上刻度的小分度為1微米（μm）。刻度的測量長度為0.2毫米，對角線的視域為0.48毫米。取得測量結果的重要條件：從各自一端對上方與下方的聚焦面進行調焦。只有這樣才能微小的反轉測量失真。直接通過物鏡的同軸照明在這里也有重要的作用。只有借助該照明光才能識別聚焦面。測量顯微鏡可以選擇配帶 MKH和MST支架進行供貨。MKH支架適用于平面材料的測量。如要在軋輥或彎曲物體上進行測量，以及在使用其他物鏡進行視覺檢查時，須使用MST 支架。原因：否則目標距離太小。無法使用數碼相機與深度測量儀的組合。然而借助 U相機也可以將測量顯示在便攜式電腦或PC的屏幕上。可以選擇購買帶有 Maglite的鋁制燈具支架。
刻度盤：可以購買圖示的測量刻度盤，其直徑為26毫米（1975）和35毫米（1983）。從中可以在下列測量放大鏡中使用：刻度盤1975所適用的放大鏡訂貨編號：1975，1976，1998，1999和2015.刻度盤1983 所適用的放大鏡訂貨編號：1983，2028，2004和2049.在訂貨編號旁標明了各自的放大倍數。供貨的顯微鏡配置有左上圖示的標準刻度盤。可以將其作為備件單獨供貨。可以按其所匹配放大倍數訂購中間與右邊的刻度盤。訂貨編號上有說明。第二排中的兩個刻度盤適用于2034、2054、2054-EIM和2054-CIL系列顯微鏡。左邊的刻度盤是成套裝備中的一件，可以另外作為備件進行供貨。而右邊的刻度盤可以使用20 倍與40倍兩種放大倍數。注意：帶20倍放大倍數的2054-CIL 顯微鏡須使用MST支架。
2054-CIL
2054-CIL系列測量顯微鏡標配有同軸以及側向照明裝置。同軸照明的優點將在本頁的應用示例中闡明。是在鍍鉻的、鏡面表面上常常不能借助側向照明證實表面結構。只有借助直接從物鏡射出的光才能完成檢查。使用標準底座的2054-CIL顯微鏡提供40的放大倍數。與MST 支架組合后也可以使用2倍物鏡。在軋輥上只能借助MST支架使用顯微鏡。附加的側向照明可以實現例如印刷品上的網點檢查與測量。同樣也可以使用數碼相機，比如帶有U相機的附加設備。通過裝有兩節1.5 伏小型電池的小型電池盒為同軸照明進行供電。
2034-CIL-300-ZX
2034-CIL-300-ZX 系列測量顯微鏡是深度測量的理想助手。通過幾乎無間隙的同軸移動可以對聚焦面進行的調焦。為了這一目標，對2034系列顯微鏡鏡體進行了改良。使用成套的 30物鏡，相當于300倍放大倍數，可以微小的景深，而這正是加工所需要的。當然也可以使用這種顯微鏡進行普通的長度測量。長度測量以及數碼測量儀上刻度的小分度為1微米（μm）。刻度的測量長度為0.2毫米，對角線的視域為0.48毫米。取得測量結果的重要條件：從各自一端對上方與下方的聚焦面進行調焦。只有這樣才能微小的反轉測量失真。直接通過物鏡的同軸照明在這里也有重要的作用。只有借助該照明光才能識別聚焦面。測量顯微鏡可以選擇配帶 MKH和MST支架進行供貨。MKH支架適用于平面材料的測量。如要在軋輥或彎曲物體上進行測量，以及在使用其他物鏡進行視覺檢查時，須使用MST 支架。原因：否則目標距離太小。無法使用數碼相機與深度測量儀的組合。然而借助 U相機也可以將測量顯示在便攜式電腦或PC的屏幕上。可以選擇購買帶有 Maglite的鋁制燈具支架。
刻度盤：可以購買圖示的測量刻度盤，其直徑為26毫米（1975）和35毫米（1983）。從中可以在下列測量放大鏡中使用：刻度盤1975所適用的放大鏡訂貨編號：1975，1976，1998，1999和2015.刻度盤1983 所適用的放大鏡訂貨編號：1983，2028，2004和2049.在訂貨編號旁標明了各自的放大倍數。供貨的顯微鏡配置有左上圖示的標準刻度盤。可以將其作為備件單獨供貨。可以按其所匹配放大倍數訂購中間與右邊的刻度盤。訂貨編號上有說明。第二排中的兩個刻度盤適用于2034、2054、2054-EIM和2054-CIL系列顯微鏡。左邊的刻度盤是成套裝備中的一件，可以另外作為備件進行供貨。而右邊的刻度盤可以使用20 倍與40倍兩種放大倍數。注意：帶20倍放大倍數的2054-CIL 顯微鏡須使用MST支架。
