CC1
1、使用范圍：本產品損耗低、容量穩定性高、電容量變化與溫度之關系呈預定直線關系。適用于諧振回路和需要補償溫度效應之電路中。
2、試驗環境：
a、標準狀態：試驗環境如無規定，以標準試驗環境（溫度15℃~35℃，相對濕度45~75%RH，氣壓86~106kPa）進行試驗。
b、測試環境溫度：25℃&plun;2℃
相對濕度：60~70%RH
氣壓：86~106kPa
3、測試條件：
a、容量/損耗測試： 測試頻率：1MHz 測試電壓：1V
b、耐壓測試：2.5UR（UR：額定電壓）
c、緣電阻IR： 測試電壓：額定電壓 測試時間：60S
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1、使用范圍：本產品適用于對損耗和容量穩定性要求不高的電路中,如低頻旁路、耦合、濾波、退耦等，亦可用于控制電路作時間常數元件和在能量轉換電路中使用。
2、試驗環境：
a、標準狀態：試驗環境如無規定，以標準試驗環境（溫度15℃~35℃，相對濕度45~75%RH，氣壓86~106kPa）進行試驗。
b、測試環境溫度：25℃&plun;2℃
相對濕度：60~70%RH
氣壓：86~106kPa
3、測試條件：
a、容量/損耗測試： 測試頻率：1KHz 測試電壓：1V
b、耐壓測試：2.5UR（UR：額定電壓）
c、緣電阻IR： 測試電壓：額定電壓 測試時間：60S
CS1
1 1、使用范圍：本產品具有容量高、體積小的特點，適用于緣電阻低的低阻電路中，即耐壓較低的產品中。 2、 試驗環境： a、標準狀態：試驗環境如無規定，以標準試驗環境（溫度15℃~35℃，相對濕度45~75%RH，氣壓86~106kPa）進行試驗。 b、測試環境溫度：25℃&plun;2℃ 相對濕度：60~70%RH 氣壓：86~106kPa 3、測試條件： a、容量/損耗測試： 測試頻率：1KHz 測試電壓：0.1V b、耐壓測試：1.5UR（UR：額定電壓） c、緣電阻IR： 測試電壓：額定電壓 測試時間：60S |