技術指標:
測量范圍:幾微米到幾毫米(與鏡頭放大倍數、相機等相關)
測量方式:在線測量晶體形態、平均尺寸、顆粒大小分布
測量濃度:可50%固體顆粒濃度(與顆粒形狀相關)
工作溫度:-10oC ~ 120oC
性能特征:
設計的探頭(相機/鏡頭/光源)可廣泛地適用于許多困難物系(尤其是非透明顆粒物系及高固體濃度)。探頭具有耐腐蝕性,能夠對pH值1~12范圍內的樣品進行測量。
由于的光源設計,本系統可地顆粒沉積/粘結于探頭上。
根據不同物系及客戶要求,本系統可設計不同方案(包括氣體清理系統)。
強大的圖像處理功能可實現顆粒多尺度分割,計算顆粒形狀參數(主元素分析和傅立葉變換),聚類分析和定量產品/過程控制。








